掃描電子顯微鏡分析
如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱:
掃描電子顯微鏡分析
產品型號:
JSM-7001F 場發射型掃描電鏡，JSM-6510以及JSM-840 掃描電鏡
產品展商:
其它品牌
產品價格:
0.00 元
簡單介紹
掃描電鏡分析，掃描電鏡檢測，掃描電鏡測試，掃描電子顯微鏡檢測，掃描電子顯微鏡測試
掃描電子顯微鏡分析的詳細介紹
關鍵詞：掃描電鏡分析，掃描電鏡檢測，掃描電鏡測試，掃描電子顯微鏡檢測，掃描電子顯微鏡測試
國家有色金屬及電子材料分析測試中心電鏡室，配備三臺掃描電鏡，JSM-7001F 場發射型掃描電鏡，JSM-6510以及JSM-840 掃描電鏡。其中，JSM-7001F配備了EDS與EBSD 一體化分析系統，不僅能夠開展高分辨的二次電子像觀察，還可以實現各種晶體材料的形貌、成分、結構及取向分布的一體化分析。JSM-6510配備了能譜儀及 MLA 礦物分析軟件，能夠自動快速測定礦物組成及含量。
國家有色金屬及電子材料分析測試中心，是中國權威的第三方金屬檢測機構，實驗室通過ISO 17025國家實驗室認可(CNAS)，中國計量認證(CMA)，國際航空材料認證（NADCAP），為客戶提供科學的產品檢測、評價方案，滿足進出口及工程檢測等各種需求
- 溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買前務必確認供應商資質與產品質量。
- 免責申明：以上內容為注冊會員自行發布，若信息的真實性、合法性存在爭議，平臺將會監督協助處理，歡迎舉報
掃描電子顯微鏡分析相關產品
Copyright@ 2003-2024
北京有色金屬研究總院版權所有